電路板維修之利用萬(wàn)能表檢測(cè)維修的方法如下：

　　一、電路板維修離線檢測(cè)

　　測(cè)出IC芯片各引腳對(duì)地之間的正、反電阻值,以此與好的IC芯片進(jìn)行比較,從而找到故障點(diǎn)。

　　二、電路板維修在線檢測(cè)

　　1. 直流電阻的檢測(cè)法。同離線檢測(cè),但要注意:

　　(1) 要斷開(kāi)待測(cè)電路板上的電源。

　　(2) 萬(wàn)能表內(nèi)部電壓不得大于6v。

　　(3) 測(cè)量時(shí),要注意外圍的影響,如與IC芯片相連的電位器等。

　　2. 直流工作電壓的測(cè)量法。測(cè)得IC芯片各腳直流電壓與正常值相比即可,但也要注意:

　　(1) 萬(wàn)能表要有足夠大的內(nèi)阻,數(shù)字表為首選。

　　(2) 各電位器旋到中間位置。

　　(3) 表筆或探頭要采取防滑措施,可用自行車(chē)氣門(mén)芯套在筆頭上,并應(yīng)長(zhǎng)出筆尖約5rrm。

　　(4) 當(dāng)測(cè)量值與正常值不相符時(shí),應(yīng)根據(jù)該引腳電壓,判斷對(duì)IC芯片正常值有無(wú)影響,以及其他引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析。

　　(5) 當(dāng)外圍有漏電、短路、開(kāi)路或變質(zhì)等時(shí), IC芯片引腳電壓會(huì)受外圍元器件的影響。

　　(6) IC芯片部分引腳異常時(shí),則從偏離大的人手。先查外圍元器件,若無(wú)故障,則IC芯片損壞。

　　(7) 對(duì)工作時(shí)有動(dòng)態(tài)信號(hào)的電路板,有無(wú)信號(hào)IC芯片引腳電壓是不同的。但若變化不正常則IC芯片可能己壞。

　　(8) 對(duì)多種工作方式的設(shè)備,在不同工作方式時(shí)IC腳的電壓是不同的。

　　3. 交流工作電壓測(cè)試法。用帶有db擋的萬(wàn)能表,對(duì)IC進(jìn)行交流電壓近似值的測(cè)量。若沒(méi)有db擋,則可在正表筆串人一只0.1~0.5uf隔離直流電容。該方法適用于工作頻率比較低的ic,但要注意這些信號(hào)因固有頻率、波形不同而不同,所以所測(cè)數(shù)據(jù)為近似值,僅供參考。

　　4. 總電流測(cè)量法。通過(guò)測(cè)IC電源的總電流,來(lái)判別IC的好壞。由于IC內(nèi)部大多數(shù)為直流耦合,IC損壞時(shí)(如pn結(jié)擊穿或開(kāi)路)會(huì)引起后級(jí)飽和與截止,使總電流發(fā)生變化。所以測(cè)總電流可判斷IC的好壞,在線測(cè)得回路電阻上的電壓,即可算出電流值來(lái)。

　　以上電路板維修檢測(cè)方法各有利弊,在實(shí)際應(yīng)用中將這些方法結(jié)合來(lái)運(yùn)用。運(yùn)用好了就能維修好各種電路板。

　　三、電路板維修不能過(guò)分依賴(lài)在線測(cè)試儀

　　1. 功能測(cè)試不能代替參數(shù)測(cè)試。

　　2. 功能測(cè)試僅能測(cè)試到器件的截止區(qū)、放大區(qū)和飽和區(qū),但無(wú)法了解此時(shí)的工作頻率的高低和速度的快j漫。

　　3. 對(duì)數(shù)字芯片而言,僅知道有高低電平的輸出變化,但無(wú)法查出它的上升和下降沿的變化速度。

　　4. 對(duì)于模擬芯片,它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布,解決信號(hào)方案的不同,是錯(cuò)綜復(fù)雜的。就目前的在線測(cè)試技術(shù),要解決模擬芯片在線測(cè)試是不可能的。所以,這項(xiàng)功能測(cè)試的結(jié)果,僅能供參考。

　　5. 大多數(shù)的在線測(cè)試儀,在對(duì)于電路板上的各類(lèi)芯片進(jìn)行功能測(cè)試后,均會(huì)給出“測(cè)試通過(guò)”或“測(cè)試不通過(guò)”。這就是這類(lèi)測(cè)試儀的缺憾。因?yàn)樵诰€測(cè)試時(shí),所受影響(干擾)的因素太多。要求在測(cè)試前采取不少的措施(如斷開(kāi)晶振,去掉cpu和帶程序的芯片,加隔離中斷信號(hào)等),這樣做是否均有效,值得研究。至少,目前的測(cè)試結(jié)果有時(shí)不盡如人意。

　　6. 了解在線測(cè)試儀的朋友,可能都知道“在線測(cè)試時(shí)不通過(guò)的芯片不一定是損壞的;測(cè)試通過(guò)的芯片一定是沒(méi)有損壞的。”假如元器件受在線影響或抗干擾時(shí),結(jié)果可能就會(huì)不正常通過(guò),對(duì)此我們應(yīng)該會(huì)不難理解。那么,是否損壞的芯片在進(jìn)行測(cè)試時(shí),均會(huì)得出“不通過(guò)”呢?回答確實(shí)不能肯定。也有很多實(shí)例說(shuō)明芯片已損壞了(確切地說(shuō)換上這個(gè)芯片板子就不工作了),但其測(cè)試結(jié)果卻是通過(guò)的。權(quán)威解釋為這是測(cè)試儀自身工作原理(后驅(qū)動(dòng)技術(shù))所致。所以我們?cè)陔娐钒寰S修的過(guò)程中，并不能過(guò)分依賴(lài)在線測(cè)試儀的作用，才能更好地做好電路板維修的工作。